XAD全自動光譜分析儀

儀器簡介：

XAD是一款上照式全元素光譜分析儀，可測量nami級厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚，也可滿足微區RoHSjiance及多元素成分分析，先進的算法及解譜技術解決了諸多業界難題。

被廣泛用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用。 

產品優勢：

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微小樣品jiance：zui小測量面積0.008mm2

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變焦裝置算法：可改變測量距離測量凹凸異形樣品，變焦距離可達0-90mm

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自主研發的EFP算法：AI(3)-U(92)元素的成分分析，Li(3)-U(92)元素的涂鍍層jiance，多層多元素，甚zhi有同種元素在不同層也可精準測量

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先進的解譜技術：減少能量相近元素的干擾，jiandi檢出限

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高性能探測器：SDD硅漂移窗口面積20/50mm2探測器

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X射線裝置：微焦加強型射線管搭配聚焦裝置

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上照式設計：實現對超大樣品或者密集點位進行快、準、穩gaoxiao率測量

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可編程自動位移：選配自動平臺，X210*Y230*Z145mm行程內無人值守自動測量

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多準直器自動切換

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應用領域：

廣泛應用于電鍍行業、通訊行業、汽車行業、五金建材、航空航天、環保jiance、地質地礦、水暖衛浴、精密電子、珠寶首飾和古董、鋰電行業等多種領域。

多元迭代EFP核心算法（專利號：2017SR567637）

zhuanye的研發團隊在Alpha和Fp法的基礎上，計算樣品中每個元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增qiangxiao應、散射背景等多元優化迭代開發出EFP核心算法，結合先進的光路轉換技術、變焦結構設計及穩定的多道脈沖分析采集系統，只需要少量的標樣來校正儀器因子，可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及yuoji物層的厚度及成分含量。

單涂鍍層應用：如Ni/Fe、Ag/Cu等

多涂鍍層應用：如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等

合金鍍層應用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

合金成分應用：如NiP/Fe，通過EFP算法，在計算鎳磷鍍層厚度的同時，還可精準分析出鎳磷含量比例。

重復鍍層應用：不同層有相同元素，也可精準測量和分析。

如釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，diyi層Ni和第三層Ni的厚度均可測量。

有害元素jiance：RoHSjiance，可滿足鉛（Pb）、汞（Hg）、鎘（Cd）、六價鉻（Cr VI）等有害元素的成分jiance及含量分析

技術參數：

1. 成分分析范圍：鋁（Al）- 鈾（U）

2. 成分zui低檢出限：1ppm

3. 涂鍍層分析范圍：鋰（Li）- 鈾（U）

4. 涂鍍層zui低檢出限：0.005μm

5. zui小測量直徑□0.1*0.3mm（zui小測量面積0.03mm2）

    標配：zui小測量直徑0.3mm（zui小測量面積0.07mm2）

6. 對焦距離：0-30mm

7. 樣品腔尺寸：530mm*570mm*150mm

8. 儀器尺寸：550mm*760mm*635mm

9. 儀器重量：100KG

10. XY軸工作臺移動范圍：100mm*150mm

11. XY軸工作臺zui大承重：15KG

選擇一六儀器的四大理由：

1.一機多用，無損jiance（涂鍍層jiance-環保RoHS-成分分析）

2.zui小測量面積0.002mm2

3.可jiance凹槽0-90mm的異形件

4.輕元素，重復鍍層，同種元素不同層亦可jiance