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    K-600便攜式礦石分析儀

    • 所屬分類 : 手持式光譜儀

    • 更新時間 : 2022-05-27
    • 產品編號: YX175469170
    • 更多 0
    產品介紹

    K-600便攜式礦石分析儀fechang堅固耐用,可以在極為惡劣的環境中完成分析要求極高的應用。 每臺設備都應用了1新開發的KMX技術,這種技術是XRF信號處理方面的一項革新,可提供jingque無誤、重復性極高的結果,從而使用戶獲得更高的生產力,并快速得到tozihuibao。k-600可以用來對各種不同類型的礦石進行現場分析。通過現場測試的成熟的X射線管分析系統,無輻射性同位素,現場分析時能做出快速而quanmian的礦石類型研究,對樣品要求低,但是測試結果準確,能準確分析高濃度樣品,避免了驗證性的實驗室測試。1手持式 k-600分析儀可對各種礦石進行多元素分析,廣泛應用于各類礦石的jiance和分析,還應用于礦渣精煉分析及考古研究。包括金礦、銀礦、銅礦、鐵礦、錫礦、鋅礦、鎳礦、鉬礦、銥礦、砷礦、鉛礦、鈦礦、銻礦、錳礦、釩礦、碘礦、硫礦、鉀礦、磷礦、鈾礦等從磷到鈾的所有自然礦石、礦渣、巖石、泥土、泥漿。被jiance的樣品可以是固體、液體、粉塵、粉末、實心體、碎片、過濾物質、薄膜層等有形物體。

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    產品參數

    K-600手持式礦石分析儀

    秉承1多年的X熒光光譜儀(手持式光譜儀)研發經驗,KMX全新一代手持XRF礦石分析儀——K-600再次帶來了一場分析領域的geming。K-600引入數字多道技術,使檢出限更低,穩定性更高,適用面更廣,性能媲美臺式機;小巧便攜的體積在探礦、找礦以及各類地質礦樣多元素jiance和分析、礦渣精煉分析中congfen發揮作用,使探礦工作更為簡單、輕松。K-600手持式礦石分析儀可以用來對各種不同類型的礦石進行現場分析。通過現場測試的成熟的X射線管分析系統,無輻射性同位素,現場分析時能做出快速而quanmian的礦石類型研究,對樣品要求低,但是測試結果準確,能準確分析高濃度樣品,避免了驗證性的實驗室測試。

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    XRF資料建模技術:

    1、X射線管光源、多光束過濾技術、以及惠普個人數位助理技術(惠普掌上型電腦),從而使其采測范圍、jiance速度、jiance精度都fechang出色,并具有極好的升級潛力。

    2、使用了先進的和多用途的x射線資料模式—-采用康普頓常態化校正方法,可以利用“內部標準”來進行定量分析,而不需要進行專門的校正。

    3、基本參數分析:采用半定量分析方式,適合于檢驗各種不同元素的構成的結構密度不均勻的樣品。

    4、實驗校正法:利用“校正曲線”進行校正,允許使用用戶產生的校正曲線。

    5、配備了光譜高點識別軟體,可在顯示幕查看光譜

    6、對比光譜,參考內置標準完成比較分析。


    地礦行業應用優勢

    jiance元素:標準配置可jiance30多種元素,同時可按客戶需求增加jiance元素

    zhuanye性:礦石專用版分析軟件,采用智能一鍵測試

    *個性化定制工作模式

    多種礦樣模式選擇和無限數目模式的自由添加,根據客戶需求定制工作模式。

    *congfen挖掘礦山價值

    高清攝像頭,可對被jiance的礦脈或礦點部位進行更直觀的觀察,并對開采過程進行jingque管理和控制,隨時jiance礦石品位。

    *對選礦過程中原礦、精礦和尾礦等進行jingque快速分析,為礦石品位的測定、礦物貿易、加工以及再利用提供價值判定依據。

    *環境監控

    對開采礦山周圍土壤中的重金屬進行監測和jiance,評估礦山環境的xiufu情況,zui大限度的監測好礦山周邊的環境。



    主要用途:

    手持式礦石分析儀,用于礦業、地質、土壤環境、底泥、沉積物中的有色金屬元素的快速分析測定。

    1.主要配置要求:

    1.1 礦石分析儀主機1套;

    1.2 標準樣品1個;

    1.3 原裝可充電鋰電池2塊;

    1.4 充電座及電源線;

    1.5 U盤(32G)1個;

    1.6 加強型聚丙烯膜5片;

    1.7 標準手提防潮防震箱一只。


    技術參數及要求

    1、jiance元素:可用于礦石、土壤環境中金屬元素,Mg、Al、Si、P、S、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、Hg、Se、Au、Br、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb、Re、Ir、Pt、Hg、Ru、Rh、Pd等元素。(紅色為SDD探測器配置)

    2、探測器:美國Moxtek Si-pin(6 mm2)、美國Amptek Si-pin(25 mm2)、德國KETEK SDD探測器 

    3、激發源:大功率微型直板X射線管,W靶材,4W大功率X射線管,管電壓50KV,管電流zui大可達100μA;

    4、采用KMX技術,更高X射線計數率,超低電子噪聲設計。每次測試前,不需要外部標樣,自動能量校準核查;

    5、濾光片:配置8個濾光片,可根據測試元素自動切換;

    6、測試方法:基本參數法,支持經驗系數法修正

    7、點觸或扣動扳機控制測試開始,測試過程無需長扣扳機。根據客戶需求,也可以一直按著扳機測試樣品。

    8、cao作系統:Window CE 6.0cao作系統,anquan、放心

    9、自診斷功能:儀器可自動對硬件、軟件、網絡、電池等進行診斷,并會生成日志,便于快速排查出故障

    10、標配模式:礦石模式;選配模式:合金分析模式、土壤分析模式


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